电容率和介质损耗因数
GB/T 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
相对电容率：电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容与同样电极构形的真空电容之比。
介质损耗角：由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此产生的电流之间的相位差的余角。
介质损耗因数：损耗角的正切。
介质损耗指数：损耗因数与相对电容率的乘积。
江苏威阔检测技术服务有限公司提供电容率和介质损耗因数测试服务。
测试设备：介电常数介质损耗测试仪
型号规格：LJD-B
频率范围：0.1MHz~50MHz
电 感 量：0.1μH~10mH
电气强度试验
GB/T 1408.1-2016绝缘材料 电气强度试验方法 第l部分：工频下试验
GB/T 1408.2-2016绝缘材料 电气强度试验方法 第2部分：对应用直流电压试验的附加要求
电气击穿：当试样承受电应力作用时，其绝缘性能严重损失，由此引起试验回路电流促使相应的回路断路器动作。
闪络：在电应力作用下，试样和电极周围的气体或液体媒质绝缘性能丧失，由此引起的试验回路电流促使响应的回路断路器动作。（出现碳化通道或试样内穿孔，则表明发生击穿，否则为闪络）
击穿电压：（在连续升压试验中）在规定的试验条件下，试样发生击穿时的电压。（在逐级升压试验中）试验承受住的zui高电压，在该电压水平下，整个时间内试样不发生击穿。
电气强度：在规定的试验条件下，击穿电压与施加电压的两电极之间距离的商。
江苏威阔检测技术服务有限公司提供绝缘材料电气强度测试服务。
测试设备：电压击穿试验仪
型号规格：LJC-50kV
输出电压：0-50kV
升压速率：0.1/0.2/0.5/1.0/2.0/3.0kV/s
当今，合成高分子材料广泛应用于各行各业，例如食品、汽车和包装材料等。终塑料产品的质量决定于其制造过程中所使用的高分子或高分子混合物材料的质量，因此为确保所使用原材料的品质，在制造过程的每一步都对原材料进行识别验证和质量测试是十分必要的。红外光谱（IR）非常适用于高分子原材料和终产品的定性分析、高分子混合物的成分定量分析以及中间产品分析。红外光谱是一种可靠、快速、成本低廉的分析方法。本应用报告描述了典型高分子样品红外光谱测试和解析的几种方式，并将其应用于一些工业用高分子材料的识别。一系列的采样方法适用于不同类型的样品和时间需求。配备UATR采样附件的Spectrum Two FT-IR光谱仪和高分子QA/QC FT-IR资源包（Polymers QA/QC FT-IR ResourcePack）是高分子样品实时分析和鉴别的理想系统。使用ATR采样技术，数秒钟内即可获得样品的光谱，通过在系统附带的谱库内进行检索可以迅速对材料进行鉴别。
以上信息由专业从事高分子材料检测服务公司的威阔检测于2024/7/4 10:45:10发布
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