电磁兼容术语
电磁兼容性-Electro Magnetic Compatibility （EMC）
设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。
EMI——电磁干扰，电磁骚扰引起的设备、传输通道或系统性能的下降。
EMS——（电磁）敏感性，在存在电磁骚扰的情况下，装置、设备或系统避免性能降低的能力。
系统间干扰（inter-system interference）
其他统产生的电磁骚扰对一个系统产生的电磁干扰。
系统内干扰 （intra -system interference）
系统中出现的由本系统内部产生的电磁骚扰引起的电磁干扰。
抗扰性（immunity）
设备或系统面临电磁骚扰不降低运行性能的能力。（敏感性高，抗扰度低，但对一个设备而言，敏感性电平与抗扰度电平是同一个数值）
电磁发射（electromagnetic emission）
从源到外发出电磁能量的现象。
电磁辐射（electromagnetic radiation）
电磁能量以电磁波辐射的形式发射到空间的现象 。
电磁兼容电平（electromagnetic compatibility level）
预期加在工作于指i定条件的装置的装置，设备或系统上的（规定的）zui大的电磁骚扰电平。
电磁兼容术语
骚扰限值（limit of disturbance）
对应于规定测量方法的zui大电磁骚扰允许电平。
抗扰性限值（limit of immunity）
规定的zui小抗扰性电平。
发射裕量（emission margin）
设备或系统的电磁兼容电平与发射限值之间的差值。
抗扰性裕量（immunity margin）
设备或系统的抗扰度限值与电磁兼容电平之间的差值。
耦合途径（coupling path ）
电磁能量从源到另一电路或装置所经的途径
地耦合干扰（groud –coupled interference）
电磁骚扰从一电路通过公共地或地回路耦合到另一电路从而引起的电磁干扰。
干扰抑制（interference suppression）
削弱或消除电磁骚扰的措施。
电磁屏蔽（electromagnetic screen）
用来减少电磁场向指i定区域穿透的措施。
人工电源网络（artificial mains network）
串接在被测设备电源进线处的网络。为骚扰电压的测量提供规定的负载阻抗，并使被测设备与电源相互隔离。(又称线路阻抗稳定网络 line impedance stabilization network (LISN) )
差模电压（differential mode voltage）
一组规定的带电导体任意两根之间的电压。
共模电压（common mode voltage）
每个导体与规定参考点（通常是机壳或地）之间的电压。
辐射骚扰场强
设备端口
电场天线
磁场天线
根据麦克斯韦方程，变化电场产生变化磁场，变化磁场产生变化电场。
设备内每个电路都可能是等效磁场天线，机壳和电缆都可能是等效电场天线的一部分。
辐射骚扰测量范围
30MHz～18GHz，测量电场（E）
1GHz以下，开阔场地或半电波暗室，半自由空间。
1GHz以上 全电波暗室，模拟自由空间。
9KHz ～30MHz，测量磁场（ H ）
EUT较小，放在大磁环天线（LLA）中，测量骚扰磁场的感应电流。
EUT较大，采用远天线法，用单小环在规定距离测量骚扰的磁场强度。
测量场所‐开阔场地
辐射骚扰测量天线
辐射骚扰测量设备
9kHz‐30MHZ辐射骚扰测量
30‐1000MHz辐射骚扰测量
1‐18GHz辐射骚扰测量
辐射骚扰场强计算
F (天线因子) = E/U
用dB值表示为F(dB) = E(dB) – U(dB) E(dB) = U(dB) + F(dB)
被测场强E(dB) = 测量接收机读数U(dB) + 天线系数F(dB) + 电缆损耗L(dB)
L2 （dB）＝ L1 （dB）+ 20lg（d1/d2）
式中L1和 L2分别为测试距离为d1 和d2时的辐射限值
待测物工作状态遵循原则
EUT应按设计要求在额定（标称）工作电压和负载条件（机械性能和电气性能）下 运行。应尽可能使用实际负载；
试验程序应确保ITE（设备或系统）中的各个组成部分能够运行。
射频电磁场辐射抗扰性试验
标准依据
IEC61000 - 4 - 3
EN61000-4-3
GB/T17626.3
试验目的
评定电子通讯设备或系统受到电磁辐射骚扰时的性能。
试验设备
全电波暗室
功率放大器
射频信号发生器
抗扰度天线
场强探头
配套计算机及软件
试验等级（严酷度等级）
干扰电场强度的波形 (1kHz正弦波80%调幅 )
试验的实施
用1kHz的正弦波对信号进行80％的幅度调制后， 在80～1000MHz频率范围内进行扫频测量，扫描步长为前一频率的1 ％，这一部分都通过计算机及软件控制实现；
每一频点上扫描停留时间不应短于受试设备操作和反应所需的时间，一般设为1-3秒钟，如果对产品有特别要求，可以延长停留时间；
受试设备应在发射天线的水平和垂直极化下进行试验 。
试验结果判定
对于情形a，判为合格。
对于情 形b、c、d，判为不合格。
以上信息由专业从事开关柜电磁兼容性检测的威阔检测于2025/1/23 11:08:29发布
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